The aim of this study was to examine the effects of low and high field magnetic resonance applications on phase changes and mercury release from high copper dental amalgam using XRD and XPS methods respectively.Disk shaped, 5mmx1mm sized 126 samples of amalgam were prepared. All samples were thermocycled for 1000 cycles via electronic thermal cycler. Samples were divided into 3 groups as 0.2T, 1.5T and control group.Totally 90 samples in 3 groups, each containing 30 samples were examined by XRD method for phase determination and totally 36 samples in 3 groups, each containing 12 samples were examined by XPS method for surface mercury amount determination. XRD and XPS analysis groups of the samples were again divided into 3 groups in which the samples were examined 1st, 7th and 30th days after magnetic field exposures.The relation between ?, ?1, ?? and Hg peak intensities observed by XRD method, were analyzed using ANOVA and Kruskal Wallis tests and no statistically differences were found (p>0.05).The relation between atomic percent of mercury observed by XPS method were analyzed using Kruskal Wallis test and no statistically differences were found (p>0.05).Time following magnetic field exposure related differences for ?, ?1, ?? and Hg peak intensities and mercury atomic percent of magnetic field exposed groups were analyzed using Friedman test and no statistically differences were found (p>0.05).According to the results of the study it can be concluded that static magnetic field exposure doesn?t cause any difference in dental amalgam structure.

Bu çalışmanın amacı, düşük ve yüksek teslada manyetik rezonans uygulamalarının yüksek bakır içerikli dental amalgamdaki faz değişiklikleri üzerine etkisinin XRD yöntemi ile, cıva buharlaşması üzerine etkisinin ise XPS yöntemi ile incelenmesidir.Disk şeklinde 5mmx1mm boyutlarında 126 adet dental amalgam örnek hazırlandı. Tüm örnekler elektronik ısısal döngü cihazı ile 1000 döngü ısısal yaşlandırmaya maruz bırakıldı. Daha sonra 3 gruba ayrılan örneklerin ilk grubu 0.2 T, ikinci grubu ise 1.5 T MRG cihazı ile manyetik alana maruz bırakıldı. Manyetik alana girmeyen örnekler ise kontrol grubu olarak değerlendirildi.Faz değerlendirmesi için her bir grupta 30 örnek olmak üzere toplam 90 örnek XRD yöntemi, yüzeydeki cıva miktarının belirlenmesi için ise her grupta 12 örnek olmak üzere toplam 36 örnek XPS yöntemi ile incelenmek üzere sınıflandırıldı. Her bir yöntemin örnek grupları üçe ayrıldı ve analizler manyetik alan uygulamasından 1., 7. ve 30. gün sonra yapıldı.XRD analizinde belirlenen ?, ?1, ?' ve Hg'ye ait pik değerlerinin, 0.2 T, 1.5 T ve kontrol grupları arasındaki ilişkisinin belirlenmesi için ANOVA ve Kruskal Wallis testi yapıldı ve istatistiksel olarak anlamlı fark bulunmadı (p>0.05).XPS analizinde gruplardaki cıvanın atomik yüzdesi arasındaki ilişkiyi belirlemek için Kruskal Wallis testi yapıldı ve istatistiksel olarak anlamlı fark bulunmadı (p>0.05).Manyetik alana maruz kaldıktan sonra geçen zamana bağlı, ?, ?1, ?' ve Hg'ye ait pik değerlerindeki ve yüzeydeki cıva konsantrasyonundaki değişimler Friedman testi ile incelendi ve istatistiksel olarak anlamlı fark bulunmadı (p>0.05).Bu çalışmanın sonuçlarına göre MRG sırasında uygulanan statik manyetik alanın dental amalgamda yapısal değişikliğe neden olmadığı söylenebilir.