SILAR yöntemiyle elde edilen Cu2SnS3 ince filmlerin yapısal ve optik özellikleri

AYKUT ASTAM

doi:https://doi.org/10.16984/saufenbilder.289305

Makale detayları

SILAR yöntemiyle elde edilen Cu2SnS3 ince filmlerin yapısal ve optik özellikleri

Yazarlar:

AYKUT ASTAM

Ana Başlıklar:

Fizik

Dergi:

Sakarya University Journal of Science 2017 Vol.21 Issue 3, pp.505-510

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

5/2017

Belge Dili:

Türkçe

Document ID (Org No.):

2000558408

DOI:

https://doi.org/10.16984/saufenbilder.289305

Özet:

 


Cu2SnS3 thin films were obtained by annealing of SILAR deposited films at 350°C for 1 hour in sulphur atmosphere.The structural and optical properties of the films were investigated using X-ray diffraction (XRD), scanning electronmicroscopy (SEM), energy dispersive X-ray analysis (EDAX) and optical absorption measurements, before and afterannealing. The XRD results showed that the annealing process transformed the crystal structure of the films fromamorphous to polycrystalline. SEM images revealed that the surface morphology of films was changed after annealingwhile EDAX analysis showed that the films were excess in copper concentration before and after annealing. Opticalabsorption measurements confirmed that the direct band gap of films decreased from 1.27 eV to 1.21 eV withannealing.  

.

 


 Bakır kalay sülfür (Cu2SnS3)
ince filmler, cam altlıklar üzerine sıralı iyonik tabaka adsorpsiyonu ve
reaksiyonu (SILAR) yöntemi kullanılarak, oda sıcaklığında elde edilen filmlerin
350°C’de 1 saat süre ile sülfür atmosferinde tavlanması
neticesinde büyütüldü. Filmlerin yapısal ve optik özellikleri, tavlama öncesi ve
sonrası, X-ışını difraksiyonu (XRD), taramalı elektron mikroskobu (SEM), enerji
ayırımlı X-ışını analizi (EDAX) ve optik soğurma ölçümleri kullanılarak
incelendi. XRD sonuçları, tavlama işleminin filmlerin kristal yapısını amorfdan
polikristale dönüştürdüğünü gösterdi. Elde edilen SEM görüntülerinden
tavlamayla filmlerin yüzey morfolojisinin değiştiği, EDAX sonuçlarından ise filmlerde
tavlama işlemi öncesi ve sonrası bakır fazlalığının olduğu belirlendi. Yapılan
optik soğurma ölçümlerinden filmlerin direk yasak enerji aralığının tavlamayla,
1.27 eV değerinden 1.21 eV değerine azaldığı gözlendi.



.

Makale detayları

SILAR yöntemiyle elde edilen Cu2SnS3 ince filmlerin yapısal ve optik özellikleri

Yazarlar: AYKUT ASTAM

Ana Başlıklar: Fizik

Dergi: Sakarya University Journal of Science 2017 Vol.21 Issue 3, pp.505-510

Belge Tipi: Makale

Yayın Tarihi: 5/2017

Belge Dili: Türkçe

Document ID (Org No.): 2000558408

DOI: https://doi.org/10.16984/saufenbilder.289305

Sayı

Yazarlar:

AYKUT ASTAM

Ana Başlıklar:

Fizik

Dergi:

Sakarya University Journal of Science 2017 Vol.21 Issue 3, pp.505-510

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

5/2017

Belge Dili:

Türkçe

Document ID (Org No.):

2000558408

DOI:

https://doi.org/10.16984/saufenbilder.289305