Elektron Işınlarının Farklı Kaynak - Yüzey Mesafelerinde Dozimetrik Olarak İncelenmesi

Kansu ŞENGÜL; Sibel Kahraman ÇETİNTAŞ; Sema GÖZCÜ; Sevim ŞAHİN; Meral KURT; Candan DEMİRÖZ; Ümit GÜRLEK; Lütfi ÖZKAN

Makale detayları

Elektron Işınlarının Farklı Kaynak - Yüzey Mesafelerinde Dozimetrik Olarak İncelenmesi

Yazarlar:

Kansu ŞENGÜL | Sibel Kahraman ÇETİNTAŞ | Sema GÖZCÜ | Sevim ŞAHİN | Meral KURT | Candan DEMİRÖZ | Ümit GÜRLEK | Lütfi ÖZKAN

Yayıncı:

Bursa Uludağ University

Dergi:

Journal of Uludağ University Medical Faculty 2011 Vol.37 Issue 1, pp.17-20

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

2/2011

Belge Dili:

Türkçe

Document ID (Org No.):

2000632640

Sıklık:

Üç Yıllık

eISSN:

2645-9027

pISSN:

1300-414X

Özet:

 

In electron beam treatment, various calculation algorithms have been described for the change of dose disturbation and profiles caused by  surface disorders and different source-skin-distance. The main issue of those algorithms is the necessity of dose profile changing measurement  for each machine. The aim of this study was to experimentally assess the output values which were obtained by calculating the algorithms.  The output scores for 6, 9, 12 and 15 MeV electron beams were obtained in different source-skin-distance as well as in different field  sizes. Results were compared with the values which were obtained by using effective SSD method. When the output values were compared,  the percentage difference in small field sizes was found to be more. Due to the reduction of field size and energy, the effective SSD is reduced.  In higher energies, the measured dose is higher because of the high amount of scattering electrons. In particular for small field sizes  and low energies, the effective SSD method gains more importance. Hence, in small fields and low energies, depending upon variable SSD,  measurements should be done and gap correcting factors should be detected for each linear accelerator and air correcting factor should be  used in Monitor Unit (MU) calculation.

 

Elektron demetlerinde yüzey düzensizliği ve farklı kaynak yüzey mesafelerinde (SSD Source to Skin Distance) doz dağılımındaki ve profilindeki  değişimi öngören değişik hesaplama algoritmaları tanımlanmıştır. Bu algoritmaların temel önerisi her cihazın doz profil değişiminin  ölçülmesi gerektiğidir. Bu çalışmada hesaplama algoritmaları ile elde edilen output değerlerini deneysel olarak ölçerek kontrol etmeyi amaçladık.  Çalışmamızda 6,9,12 ve 15 MeV elekron huzmelerinde farklı SSD'lerde farklı alan boyutlarında output değerleri ölçüldü. Bu değerler  ile Efektif SSD yöntemine göre hesaplanan kuramsal değerlerle karşılaştırıldı. Output değerleri incelendiğinde küçük alanlarda yüzde farkın  fazla olduğu görülmektedir. Enerji ve alan boyutu küçüldükçe etkin SSD değeri küçülmektedir. Yüksek enerjilerde saçılan elektronların fazla  olması sebebiyle oluşan doz daha yüksek ölçülür. Sonuç olarak özellikle küçük alan ve düşük enerjilerde etkin SSD bulma yöntemi daha  fazla önem kazanmaktadır. Bu nedenle küçük alan ve düşük enerjilerde değişen SSD'ye bağlı olarak her cihaz için ölçümler alınıp düzeltme  faktörleri saptanmalı ve Monitör Unit (MU) hesaplamasında düzeltme faktörünün kullanımı gerekmektedir.

Makale detayları

Elektron Işınlarının Farklı Kaynak - Yüzey Mesafelerinde Dozimetrik Olarak İncelenmesi

Yazarlar: Kansu ŞENGÜL | Sibel Kahraman ÇETİNTAŞ | Sema GÖZCÜ | Sevim ŞAHİN | Meral KURT | Candan DEMİRÖZ | Ümit GÜRLEK | Lütfi ÖZKAN

Yayıncı: Bursa Uludağ University

Dergi: Journal of Uludağ University Medical Faculty 2011 Vol.37 Issue 1, pp.17-20

Belge Tipi: Makale

Yayın Tarihi: 2/2011

Belge Dili: Türkçe

Document ID (Org No.): 2000632640

Sıklık: Üç Yıllık

eISSN: 2645-9027

pISSN: 1300-414X

Sayı

Yazarlar:

Kansu ŞENGÜL | Sibel Kahraman ÇETİNTAŞ | Sema GÖZCÜ | Sevim ŞAHİN | Meral KURT | Candan DEMİRÖZ | Ümit GÜRLEK | Lütfi ÖZKAN

Yayıncı:

Bursa Uludağ University

Dergi:

Journal of Uludağ University Medical Faculty 2011 Vol.37 Issue 1, pp.17-20

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

2/2011

Belge Dili:

Türkçe

Document ID (Org No.):

2000632640

Sıklık:

Üç Yıllık

eISSN:

2645-9027

pISSN:

1300-414X