Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope Method

Özge ERKEN; Cebrail GÜMÜŞ

Makale detayları

Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope Method

Yazarlar:

Özge ERKEN | Cebrail GÜMÜŞ

Yayıncı:

Adıyaman University

Ana Başlıklar:

Uygulamalı fizik

Dergi:

Adıyaman University Journal of Science 2018 Vol.8 Issue 2, pp.141-151

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

12/2018

Belge Dili:

İngilizce

Document ID (Org No.):

2000440917

Sıklık:

Aylık

eISSN:

2146-586X

pISSN:

2147-1630

Özet:

 


SnO2 (tin
dioxide) thin film was deposited on commercial
glass substrate by spray pyrolysis technique at 420oC. The
XRD analyses indicated that the SnO2 thin film is found to
tetragonal rutile structure. Optical transmission values (T %) of the film are the range of 80-96 % in the visible region and
its highly transparent. The absorption coefficients (α)
were defined from transmission spectrum. Refractive indices
(n) and film thickness (t) were determined from interferences of the optical
transmission curve with envelope method. The refractive indices (n) were altered between 1.83-1.97 in the
ultraviolet-visible-near-infrared (UV-VIS-NIR) regions. The thickness (t) and optical energy gap (Eg) of the SnO2
thin film were found to be 1.22 μm
and 3.98 eV, respectively.

.

 


SnO2 (kalay
dioksit) ince film ticari cam alttaban üzerinde 420oC’de püskürtme tekniği
ile depolanmıştır. XRD
analizleri SnO2 ince filmin tetragonal rutil yapıya sahip olduğunu
göstermiştir. Filmin optik geçirgenlik değerleri (% T) görünür bölgede % 80-96 aralığındadır
ve son derece şeffaftır. Soğurma
katsayıları (α)
geçirgenlik spektrumundan hesaplanmıştır. Kırılma indisleri (n) ve film kalınlığı (t) zarf yöntemi kullanılarak optik geçirgenlik
eğrisinin girişimlerinden belirlenmiştir. Ultraviyole-görünür-yakın kızılötesi
(UV-VIS-NIR) bölgelerinde kırılma indisleri (n) 1.83-1.97 aralığında değişmiştir. SnO2 ince filmin
kalınlığı (t) ve optik enerji
aralığı, sırasıyla 1.22
μm
ve 3.98 eV olarak bulunmuştur.

.

Makale detayları

Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope Method

Yazarlar: Özge ERKEN | Cebrail GÜMÜŞ

Yayıncı: Adıyaman University

Ana Başlıklar: Uygulamalı fizik

Dergi: Adıyaman University Journal of Science 2018 Vol.8 Issue 2, pp.141-151

Belge Tipi: Makale

Yayın Tarihi: 12/2018

Belge Dili: İngilizce

Document ID (Org No.): 2000440917

Sıklık: Aylık

eISSN: 2146-586X

pISSN: 2147-1630

Sayı

Yazarlar:

Özge ERKEN | Cebrail GÜMÜŞ

Yayıncı:

Adıyaman University

Ana Başlıklar:

Uygulamalı fizik

Dergi:

Adıyaman University Journal of Science 2018 Vol.8 Issue 2, pp.141-151

Belge Tipi:

Makale

Yayın Tarihi:

12/2018

Belge Dili:

İngilizce

Document ID (Org No.):

2000440917

Sıklık:

Aylık

eISSN:

2146-586X

pISSN:

2147-1630