Makale detayları
XAFS Tekniği ile İkame Edilmiş Hafif Atomların Yer Tespiti
Yazarlar:
Yazarlar:
Yayıncı:
Yayıncı:
Ana Başlıklar:
Ana Başlıklar:
Dergi:
Osmaniye Korkut Ata University Journal of the Institute of Science and Technology 2019 Vol.2 Issue 1, pp.1-5
Dergi:
Osmaniye Korkut Ata University Journal of the Institute of Science and Technology 2019 Vol.2 Issue 1, pp.1-5
Belge Tipi:
Belge Tipi:
Yayın Tarihi:
Yayın Tarihi:
Belge Dili:
Belge Dili:
Document ID (Org No.):
Document ID (Org No.):
Sıklık:
Sıklık:
pISSN:
pISSN:
Özet: